硅片缺陷觀測儀 硅片劃痕崩邊測定儀 硅片位錯層錯檢測儀

型號JC06-WDI

硅片缺陷觀測儀于對硅片的缺陷進行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。

實時對圖像進行分析、測量和統(tǒng)計，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設(shè)備，能更好的觀測和保存研究結(jié)果；

硅片缺陷觀測儀-產(chǎn)品特點

適用于對硅片的缺陷觀察效果，非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等；

使硅片缺陷觀察工作簡單化，準(zhǔn)確化，同時極大程度降低此項工作強度；

實時對圖像進行分析、測量和統(tǒng)計，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設(shè)備，能更好的觀測和保存研究結(jié)果；

使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有體積小，技術(shù)*，像素較高， 成像清晰 、線條細膩、色彩豐富；

傳輸接口為 USB2.0 高速接口， 軟件模塊化設(shè)計 ；

有效分辨率為 200 萬像素；

所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。

北京北信科儀分析儀器有限公司

地址：北京市昌平區(qū)西三旗龍旗廣場2號樓

：李

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